二维平移光谱响应度测试探针台

简要描述：二维平移光谱响应度测试探针台是一款专用于半导体材料光电测试的系统。其功能全面，提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描，光电流扫描以及光响应速率测试。

产品型号：TLRHC系列
厂商性质：生产厂家
更新时间：2024-06-12
浏览次数：429

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产品介绍

二维平移光谱响应测试探针台是一种专门用于测试材料光谱响应的设备。这种探针台结合了光谱扫描、光电流扫描以及光响应速率测试等功能，可以对材料进行全面的光学性能测试。 PLCTS光谱响应测试探针台是一种专门用于测试材料光谱响应的设备。这种探针台结合了光谱扫描、光电流扫描以及光响应速率测试等功能，可以对材料进行全面的光学性能测试。在光谱响应测试中，探针台通过精确控制光源和探测器，测量材料在不同波长光照射下的响应情况。通过测量光谱响应度、量子效率等参数，可以了解材料对不同波长光的吸收、反射和透射特性，进而评估其光学性能和应用潜力。

技术优势

·半圆形探针架，可放置6个DC探针座;

· 漏电精度100fA/10pA;

· 整体位移精度3μm;

· 1微米以上电极/PAD使用;

· 样品台XYZR四维调节;

· 模块化设计，可以搭配不同构件完成多种不同测试需求;

模块介绍

二维平移光谱响应度测试探针台

通用参数：

样品台尺寸	4,6,8,12英寸
位移精度	3um
漏电精度	100fA
线缆规格	三同轴线缆
探针座精度	3um
显微镜移动	25*25mm
位移维度	XY整体位移
行程	X:100mm Y:100mm

产品示意图：

二维平移光谱响应度测试探针台

产品选型：

产品型号	样品台尺寸	样品台位移精度	探针座位移精度	漏电流精度
TLRHC-04	4英寸	3um	3um	100fA
TLRHC-06	6英寸	3um	3um	100fA
TLRHC-08	8英寸	3um	3um	100fA
TLRHC-12	12英寸	3um	3um	100fA

谱量光电可根据客户实际应用需求，定制配套二维平移光谱响应度测试探针台系统，以达更好的测试效果及更高的性价比，具体信息可联系详询。

产品咨询

二维平移光谱响应度测试探针台

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