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芯片测试探针台

简要描述:谱量根据客户实际应用需求,推出芯片测试探针台,结构小巧,功能实用,性价比高的简易模块化探针台,该探针台系统包括显微成像模块、四维调整载物台、真空吸附系统、探针座、隔振平台等。 多用于晶圆测试、LED测试、功率器件测试、MEMS测试、PCB测试、液晶面板测试、太阳能电池片测试、侧料电阻率测试以及搭建材料电学测试系统、光电探测器光电响应系统、光电Mapping测试系统等

  • 产品型号:TLRH-04
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-04-19
  • 浏览次数:807

详细介绍

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芯片测试探针台产品介绍

我司根据客户实际应用需求,推出该款结构小巧,功能实用,性价比高的简易模块化探针台,芯片测试探针台系统包括显微成像模块、四维调整载物台、真空吸附系统、探针座、隔振平台等。 多用于晶圆测试、LED测试、功率器件测试、MEMS测试、PCB测试、液晶面板测试、太阳能电池片测试、侧料电阻率测试以及搭建材料电学测试系统、光电探测器光电响应系统、光电Mapping测试系统等。

技术优势

模块化设计,可以搭配不同构件完成不同测试;

探针台整体位移精度达3um,样品台四维精密调节;

兼容多种光学显微镜,可以引入光路,完成光电mapping测试;

兼容高倍率电子显微镜/体视显微镜,可360°旋转及微调升降;

漏电精度可达10pA/100fA/10fA(屏蔽箱内);

探针座采用进口交叉滚珠导轨,线性移动,无回程差设计;

满足1um以上电极/PAD使用;

加宽探针架,可放置6个DC探针座/4个RF探针座;

搭配显微镜二维精密调节功能,且可选配多种位移行程及驱动方式。

细节展示














通用参数

样品台尺寸

4英寸

样品台行程

XY110mm,Z10mm,360°粗调,±5°精调

样品台位移精度

3um

背电极测试功能

可引背电极

真空吸附

进口无油真空泵,7L/min

样品固定方式

环形真空吸附

样品台定制化

可定制(尺寸/材质/镀金/背光)

探针座行程

XYZ13mm

探针座调节精度

3um

漏电精度

10pA@同轴线缆/100fA@三同轴线缆

固定方式

可调磁力吸附(可选配真空吸附,螺丝固定)

接口形式

香蕉插头/鳄鱼夹/同轴BNC/三同轴TRX

成像显微镜

双目体式显微镜(可升级金相显微镜)

放大倍数

7~200倍(最大可升级到~1000倍)

CCD

2000W高清彩色相机

显微镜二维调节台

XY25mm,精度3um

显示器

22.5英寸高清HDMI显示器

探针座数量

标配3个

产品示意图

芯片测试探针台






























































实验附件及常规测试步骤:

光学隔振平台(台面>600mm*600mm)、一台计算机(标准VGA接口和USB接口)、吉时利2400数字源表(含软件)等。

测试时连接探针台和数字源表,探针接被测物体,通过显微镜观察确定两根探针是否紧贴被测物表面,待连接导通后打开源表软件,选好参数即可出该触点的I-V性能曲线。

应用领域:

半导体材料光电检测、功率器件测试、MEMS测试、PCB测试、液晶面板测试、测量表面电阻率测试、精密仪器生产检测、航空航天实验等。

谱量光电可根据客户实际应用需求,定制配套探针台系统,以达更好的测试效果及更高的性价比,具体信息可联系详询。



 

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