探针座作为探针台的核心部件，主要用途是连接探针和线缆，为半导体芯片的电参数测试提供一个导通条件，从调节精度上来区分可分为10um/5um/3um/1um/0.5um等，从操作方式来区分可分为手动和电动，此外根据应用场景的不同又可分为通用型探针座/万向型探针座/L型探针座等，广泛应用于半导体及光电行业的电学参数测试。此款为通用型10μm探针座，具有较高的性价比。

探针座作为探针台的核心部件，主要用途是连接探针和线缆，为半导体芯片的电参数测试提供一个导通条件，从调节精度上来区分可分为10um/5um/3um/1um/0.5um等，从操作方式来区分可分为手动和电动，此外根据应用场景的不同又可分为通用型探针座/万向型探针座/L型探针座等，广泛应用于半导体及光电行业的电学参数测试。此款为通用型3μm探针座

探针座作为探针台的核心部件，主要用途是连接探针和线缆，为半导体芯片的电参数测试提供一个导通条件，从调节精度上来区分可分为10um/5um/3um/1um/0.5um等，从操作方式来区分可分为手动和电动，此外根据应用场景的不同又可分为通用型探针座/万向型探针座/L型探针座等，广泛应用于半导体及光电行业的电学参数测试。此款为通用型1μm探针座，适用于对调节精度要求较高的测试实验。

探针座作为探针台的核心部件，主要用途是连接探针和线缆，为半导体芯片的电参数测试提供一个导通条件，从调节精度上来区分可分为10μm/5μm/3μm/1μm/0.7μm/0.5μm等，从操作方式来区分可分为手动和电动，此外根据应用场景的不同又可分为通用型探针座/万向型探针座/L型探针座等，广泛应用于半导体及光电行业的电学参数测试。此款为通用型0.7μm探针座，适用于对精度要求非常高的实验测试场景。

探针座作为探针台的核心部件，主要用途是连接探针和线缆，为半导体芯片的电参数测试提供一个导通条件，从调节精度上来区分可分为10μm/5μm/3μm/1μm/0.5μm等，从操作方式来区分可分为手动和电动，此外根据应用场景的不同又可分为通用型探针座/万向型探针座/L型探针座等，广泛应用于半导体及光电行业的电学参数测试。此款为通用型0.5μm探针座，适合于对精度要求非常高的测试场景